Vier redenen om voor OMNEO te kiezen
- De zekerheid van een bewezen meettechniek in overeenstemming met ISO 14644
- Het gemak van een flexibel, eenvoudig uit te breiden systeem
- De mogelijkheid om de neerslag te identificeren, te tellen en te classificeren
- De beschikbaarheid van gedetailleerde informatie om de werkruimte en processen te verbeteren

Verhoog de opbrengst en productiviteit
Het bewaken van neerslag-niveaus op kritieke punten in clean rooms, clean zones en andere werkgebieden is het uitgangspunt voor procesoptimalisatie. De niveaus van stofneerslag, microscopische vezels, microben en andere verontreinigingen kunnen de opbrengst en kwaliteit beïnvloeden in toepassingen variërend van micro-elektronica en precisie-engineering tot life science en gezondheidszorg.

Controleer de conformiteit met de overeengekomen specificaties

Met behulp van de monsterplaatjes of een oppervlaktemonster en de speciale plaatlezer verzamelt het systeem gegevens in overeenstemming met de meettechniek zoals beschreven in ISO 14644-3 (bijlage B.11.2.2). Deze innovatieve technologie wordt toegepast in ons geavanceerde monitoring-systeem en is nu verkrijgbaar als een draagbare oplossing voor een breder scala aan toepassingen.

Met OMNEO kunt u
- Meet neerslag-niveaus op specifieke punten in het werkgebied
- Verzamel feitelijke monsters van afgezette deeltjes om ze te analyseren en te identificeren
- Verifiëren van de overeenstemming met de specificaties en voor het oplossen van geschillen
- Lever gelokaliseerde gegevens om processen te helpen optimaliseren en het werkgebied te verbeteren

"Meer en meer bedrijven eisen van hun leveranciers dat ze gedocumenteerd bewijs leveren m.b.t. de conformiteit t.a.v. de  specificaties inzake de productieomgeving. Omneo biedt gedetailleerde gegevens om aan deze behoefte te voldoen."

Optimalisatie van processen en werkruimtes

Er zijn veel bronnen m.b.t. deeltjes in de werkomgeving, inclusief mensen, materialen en gereedschappen. Andere factoren zoals luchtstroom, beweging, temperatuur en atmosferische omstandigheden beïnvloeden ook de gelokaliseerde concentraties van de deeltjesneerslag. Het is daarom noodzakelijk om gelokaliseerde neerslag nauwkeurig te volgen. Door de bronnen van vervuilende stoffen te ontdekken en de momenten van deeltjesvorming met Omneo te detecteren, kunt u waar nodig corrigerende maatregelen nemen.

Meerdere meetpunten
Een Omneo-systeem kan worden geconfigureerd met een of meer Witness-platen (glasplaten die de afgezette deeltjes verzamelen) die zich op proces-kritieke punten in het werkgebied bevinden. Hiermee kunt u een gedetailleerde kaart van lokale depositie van deeltjes opstellen.

Representatieve deeltjesmonsters
Omneo meet, telt en categoriseert gedeponeerde deeltjes feitelijk op de Sample Plate gedurende een door de gebruiker gedefinieerde tijdsperiode. Deze wijze van meten betreft geen 'momentopname' maar een representatief monster voor het tellen en kwalificeren van de feitelijke verontreinigende populatie die zich op een bepaald gebied en tijd heeft gevestigd. Tevens is het mogelijk om een oppervlaktemonster met een zelfklevende drager te nemen om de oppervlakte-reinheid van een product te controleren.

Relevante neerslag-data
Omdat Omneo alleen deeltjes meet die zich daadwerkelijk op de plaat vestigen, richt het zich op het verstrekken van gegevens op afzettingen die mogelijk schadelijk zijn voor het proces of product. Veel deeltjes in de lucht blijven in de lucht en vormen daarom een ​​geringere bedreiging voor het rendement of de productiviteit.

Uitgebreide dataset
Met behulp van beeldherkenning en meetalgoritmen telt Omneo niet alleen de deeltjes, maar worden ook de volgende parameters voor elk deeltje vastgelegd:
• lengte volgens ISO 14644 standaard
• oppervlakte
• X-Y positie 

Het vermogen om deeltjes te identificeren
Naast het bepalen van de grootte, vorm en hoeveelheid van de deeltjes, maakt Omneo het ook mogelijk om ze fysiek te onderzoeken en te identificeren. Zelfs na maanden kan het bewijs op de monsterplaat indien nodig worden onderzocht.

Toepassingen
De Omneo kan worden toegepast in clean rooms, schone zones, laboratoria en andere gebieden waar oppervlaktereiniging is vereist. De Omneo kan worden toepast om een ​​potentieel risico m.b.t. lage kwaliteit, lage opbrengst, procesproblemen, of een dat wat een gezondheids- of veiligheidsrisico kan vormen te voorkomen. Typische toepassingen zijn:
• Micro-elektronica
• Gezondheidszorg
• Optische industrie
• Biotechnologie en levenswetenschappen
• Oppervlaktevoorbereiding
• Tuinbouw en nieuwe toepassingsgebieden

Samenvatting van specificaties
De Omneo-PDM bestaat uit drie functionele eenheden:
• Monsterplaten ter grootte van een creditcard. Alle monsterplaten zijn uniek geïdentificeerd met behulp van een 2D-code, plus een alfanumerieke en een leesbare code. Tevens kunnen ze worden gereinigd en opnieuw worden gebruikt.

• Draagbare plaatlezer om de afbeelding te digitaliseren en over te brengen naar een pc of laptop. De reader heeft een 20 megapixel camera, optica en een LED- en UV-lichtbron. Deze maakt een afbeelding van de monsterplaat en geeft de gekalibreerde afbeelding door via USB aan de PC.

• PC-software om het beeld te analyseren, de gegevens te verwerken en te exporteren met een .csv bestand naar externe software (bijvoorbeeld Excel of  Microsoft Database) of een speciaal systeem voor het registreren van statistische procesinformatie.

Monsterplaat grootte                         85.6 x 53.98mm / 3.4x2.1inch 
Detectie oppervlakte                         49 x 32,7mm (0,16dm2)
Pixel resolutie                                     9μm
Kleinste kanaal                                   20μm

Bedrijfstemperatuur                          +10-35 graden celsius

Beeldvormingstijd                              10 sec
Aantal kanalen                                    max. 5 kanalen 
Output meeting                                  Kanalen: numeriek & grafisch; PDC Particle Deposition Class; PAC Particle Area Coverage